Tag 19

Wir haben einen Testversuch mit dem TOF Laser auf einer Detector Card durchgeführt und anschließend ein manuelles Steuerungs-Display in die Benutzeroberfläche eingefügt. Danach wurde die I²C Kommunikation zwischen der TOF-Platine und der Main Unit implementiert und wir haben die Arbeit an der MAVLink-Integration weitergeführt. Zum Abschluss wurden die Arbeitsschritte dokumentiert.

Erkenntnisse des Tages:

Die Integration von MAVLink erwies sich als komplexer als zunächst angenommen. Zudem zeigte sich, dass die Benutzeroberfläche stets um neue Funktionen und Verbesserungen erweitert werden kann, wodurch sie kontinuierlich optimiert wird.

Tag 18

Heute wurde die Avalanche-Diode auf der TOF-Sensor-Platine erfolgreich in Betrieb genommen. Zudem wurde ein Kalibrations-Display in die Benutzeroberfläche integriert. Zusätzlich erfolgte die Anbindung von MAVLink zur Inter-Device-Communication.

Erkenntnisse des Tages:

Nach einigen Troubleshooting-Schritten konnte die Avalanche-Diode funktionsfähig gemacht werden. Zuvor war eine APD (Avalanche Photodiode) durchgebrannt, sodass diese ersetzt werden musste.

Dabei stellte sich heraus, dass die Ersatz-APD weniger empfindlich war als die erste. Dies machte Anpassungen der Kalibrationseinstellungen im Code erforderlich.

Im Zuge der Weiterentwicklung der Benutzeroberfläche wurde ein separates Kalibrations-Screen eingeführt.

Bei der Arbeit mit den Menüs wurde festgestellt, dass die bisherigen Checkboxes, die Menüs ein- und ausklappen, neue Events benötigen, welche im Code definiert werden müssen.

Tag 17

Heute wurde der Laser auf der TOF-Sensor-Platine nach umfangreicher Fehlersuche erfolgreich in Betrieb genommen. Das Problem lag daran, dass der Laser zuvor nicht ausreichend Spannung erhalten hatte. Anschließend wurde die Avalanche-Diode (APD) getestet, jedoch ohne Erfolg. Daraufhin folgte eine weitere Phase der Fehlersuche. Alle Arbeitsschritte wurden dokumentiert.

Erkenntnisse des Tages:

Der Laser und die Avalanche-Diode reagieren extrem empfindlich auf elektrostatische Entladungen (ESD). Dabei wurde eine Komponente beschädigt. Danach achteten wir stärker auf den ESD-Schutz und stellten sicher, dass wir beim Umgang mit den Bauteilen geerdet sind.

Tag 16

Heute wurde der Code für den Laser-Treiber der TOF-Sensor-Platine geschrieben. Anschließend erfolgte ein Test der Platine, bei dem erneut Fehlersuche notwendig war. Zudem wurde nach einem Ersatz für den verwendeten MOSFET recherchiert, da wir den falschen Footprint auf der Platine gewählt haben. Parallel dazu haben wir das Design der Benutzeroberfläche weiter verbessert.

Erkenntnisse des Tages:

Der MOSFET-Footprint war fehlerhaft, weshalb der bestellte MOSFET provisorisch mit „Air Wires“ angelötet wurde. Diese Lösung hat sich jedoch als unzuverlässig herausgestellt und funktionierte nicht zufriedenstellend.

Tag 15

Heute lag der Schwerpunkt auf der TOF-Sensor-Platine. Zunächst wurden die restlichen 0-Ohm-Widerstände, der Laser sowie die Avalanche-Diode auf die Platine gelötet. Anschließend wurde der Code für die TOF-Platine geschrieben und erste Tests durchgeführt.

Erkenntnisse des Tages:

Die Tests verliefen nicht erfolgreich. Wir konnten den Fehler auf den TDC (Time-to-Digital Converter) zurückführen, der keine Kommunikation mit der MCU aufbaute. Daraufhin begannen wir mit einer detaillierten Fehlersuche.